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3.fA级半导体参数测试系统

发布日期:2019-06-10 作者: 点击:


   https://www.formfactor.com/wp-content/uploads/eps150triax_angled.jpg    

1. 仪器名称:fA级半导体参数测试系统

源表型号和规格:Keysight B1500A

探针台:Cascade EPS150TRIAX

2. 仪器主要用途

B1500A 半导体器件分析仪属于是德科技精密电流-电压分析仪系列,是一款能够提供 IVCV、脉冲/动态 IV 等丰富功能的综合分析仪,旨在全面满足从基础到尖端应用的表征需求。

3. 主要技术指标

I-V源测量单元(SMU I):

电压范围:±100 V, 电压测量分辨率:0.5 µV

电流范围:±100 mA, 电流测量分辨率:10 fA

I-V源测量单元(SMU II)

电压范围:±100 V, 电压测量分辨率:0.5 µV

电流范围:±100 mA, 电流测量分辨率:1fA

C-V 多频率电容单元(CMU

    AC 阻抗测量 (C-V, C-f, C-t)

频率范围:1 KHz~5 MHz, 频率分辨率:1mHz

交流信号电压范围:10mVrms~250mVrms

偏置电压范围:£±25 V

脉冲发生器单元

输出电压:£40 V

生成任意波形,分辨率 10 ns

最小脉宽 10 ns

IV/C-V 切换单元

实现 I-V测量和 C-V 测量之间简便切换,无需换线

3. 样品要求(如有)

样品最大6英寸,电极尺寸最小100 μm*100 μm

4. 安放地点:软件园校区教研楼超净间

5. 联系人:王一鸣,邮箱:nano@sdu.edu.cn


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