由专家濮必得(Peter Poechmueller)带领的团队已经成功搭建独有低成本应用测试测试环境并完成了2k存储器芯片的测试。将进一步优化和迭代应用级测试平台和软件环境,早日实现革新性应用级存储器量产测试。通过该测试方法,开发更高质量的DRAM产品,并提供有效的现场故障分析方法,以满足客户的定制化需求。在此基础上,团队将开展全新架构DRAM芯片设计,进一步提高定制化能力和灵活性。
新型存储器测试系统及测试软件
新型存储器架构
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